近傍磁界測定装置 EMIテスタ(EMV-200)

 近年の電子機器の放射ノイズ対策は、受動的対策から、電子機器の最適化レイアウトやLSI自体の低電圧化などの根本的対策が求められています。この対策を実施するためには、ピンポイントで電流分布探査ができる近傍磁界測定が重要なポイントとなっています。

 EMV-200は、測定対象とアンテナとの測定距離を最小にするための接触感知型上下移動機構とアンテナ回転機構をもつ小型・高精度アンテナ移動機構を採用し、高い配線分解能と高感度を実現しました。また、スペクトラムアナライザによる測定結果判定を容易化するため、2D、3D、4Dビジュアル表示機能を有します。


特徴

1.可動センサーで高分解能測定
可動センサーで、対象物全面を至近距離から高分解能測定。

2.複雑な形状も、4軸で自動トレース
複雑な測定物形状をXYZθ4軸で自動トレース。

3.スペクトラム波形を取得・表示
指定周波数範囲のスペクトラム波形を取得し表示。

4.電界と磁界を同時測定
電界と磁界を同時に測定し、データを取得。(オプション)

主な構成と仕様

構成 仕様
可動
テーブル
動作範囲 XY軸方向測定範囲 : 300mm×300mm、Z軸方向可動範囲 : 0〜230mm、回転軸(θ) : 360°
位置再現性 XYZ軸 : ±0.05mm
外形寸法 565mm(W)×680mm×1003mm(H)
近磁界プローブ 基板型微小ループアンテナ、周波数範囲 : 0.1MHz〜3GHz、配線分解能 : 0.5mm〜0.7mm
計測部 スペクトラムアナライザによる計測
制御用PC IBM PC/AT互換機 、OS Windows 2000/XP
電 源 100V AC±5%、50Hz/60Hz、1.5KVA(max)

測定結果の表示

2次元

測定データを色分け表示、赤が磁界強度の強い部分で青が弱い部分です。

3次元

測定データを色と高さで表示、ドラッグする事により視点を変更可能です。

4次元

測定時のZ軸の位置を高さで表示、ドラッグする事により視点を変更可能です。

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